參照標(biāo)準(zhǔn)：

1. GB/T 2423.2-2008        電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

2. GJB150.3A－2009        高溫試驗(yàn)方法

3. GBT 2424.5-2006         電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)

4.GB/T5170.18-2005        電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度 

5.GB/T10586-2006          溫度試驗(yàn)箱技術(shù)條件

6.GBT 2424.6-2006          電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)

7.GBT 2424.7-2006          電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A和B(帶負(fù)載)溫度試驗(yàn)箱的測(cè)量