一、兩箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱簡(jiǎn)介：

  冷熱沖擊試驗(yàn)箱根據(jù)待測(cè)試樣品的特殊性，分為兩箱式動(dòng)態(tài)沖擊試驗(yàn)機(jī)和三箱式靜態(tài)沖擊試驗(yàn)機(jī)（提籃式與半封閉式），本設(shè)備可做冷熱沖擊，也可以做單獨(dú)高溫試驗(yàn)或低溫試驗(yàn)。廣泛應(yīng)用于航空航天、電子電工、儀器儀表、汽車(chē)、通訊、集成電路、半導(dǎo)體等領(lǐng)域，可發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品潛在缺陷，做應(yīng)力篩選試驗(yàn)，提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品質(zhì)量控制。

二、冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)技術(shù)參數(shù):

三、兩箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)：

1. GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗(yàn)

2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗(yàn)

3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

第2部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則

4. GJB360B-2009溫度沖擊試驗(yàn)

5. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

7.GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

8.GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件