一、可程式高低溫測試機儀器主要功能:

適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、車輛、金屬產(chǎn)品、各種電子元氣件在高低溫環(huán)境下、檢驗其各性能項指針及質(zhì)量管理之用.

二、可程式高低溫測試機儀器體結(jié)構(gòu)

內(nèi)箱材質(zhì)：304#不銹鋼 1.2mm厚

外箱材質(zhì)：304#不銹鋼 1.0mm厚

保溫材質(zhì)：聚氨酯發(fā)泡膠 100mm厚

試驗箱底部安裝固定腳杯及移動腳輪

三、程序容量及控制功能

1.可使用的程序量:大120組,1個程序可由1~99段次組合而成.

2.可使用的記憶容量: 1200段 ，可重復(fù)執(zhí)行命令:每一個命令可達999次，程序斜率設(shè)定可由時間軸來設(shè)定，程序間可設(shè)定聯(lián)結(jié)使用，程序之制作采對談式操作簡單.

3.具有編輯,清除,插入等功能，4組時間信號輸出控制(可控制待測物ON/OFF動作).

4.具有9組PID參數(shù)設(shè)定，程序執(zhí)行中具有跳段,保持功能，可顯示曲線,數(shù)據(jù)采集；日期、時間調(diào)整功能；按鍵及畫面鎖定(LOCK)功能，可連接計算機使用，8點DI異常輸入及10點DO信號控制.

四、執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

1. GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗A：低溫.

2. GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫.

3. GJB150.3A－2009            高溫試驗方法

4. GJB150.4A－2009             低溫試驗方法

5. GB2423.22-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Nb：規(guī)定溫度變化速率的溫度變化.

五、技術(shù)參數(shù)指標(biāo)：